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            定華雷達知識講堂:雷達物位計在測量過程中的干擾有哪些?
            點擊次數:1038 更新時間:2024-06-26

            DHE雷達物位計在各行各業的測量系統中使用相當頻繁,在其使用過程中會受到很多因素的影響,可能會影響測量精度。西安定華電子的技術人員就雷達物位計的干擾問題,結合多年的生產、檢測的實際經驗,向廣大用戶介紹一下DHE雷達物位計在測量過程中產生干擾的具體因素都有哪些。

             

            一、DHE雷達物位計在測量過程中,常見的干擾可分為兩種:直流干擾和交流干擾。

            1、直流干擾 

                  在雷達物位計測量回路中,出現附加直流流電壓時,即為直流干擾。嚴重時,將使測量儀表不能正常工作。直流干擾的來源有以下幾種:

            (1)附加熱電勢。

            (2)化學電勢。

            (3)雷達物位計與直流電源接觸時,泄露電流將通過測量回路產生干擾電壓。

             

            2、交流干擾 

                  交流干擾又可分為線間干擾和對地干擾。

                  線間干擾是指外界影響下,雷達物位計(補償導線)輸出端之間會出現交流電壓。

                  這種干擾又稱為橫向、共?;蚬矐B干擾。在一般情況下,線間干擾電壓可達到幾毫伏甚至幾十毫伏。

                  對地干擾是指出現在雷達物位計(或補償導線)兩輸出端中的一端,其對地的交流電壓稱為對地干擾電壓。這種干擾又稱為縱向、串模或串態干擾。

                  一般情況下,對地干擾電壓可達到幾伏甚至100多伏。交流干擾的來源主要有以下幾種:

            (1)電磁感應是線間干擾的主要來源。

            (2)高溫漏電影響。

            (3)高壓電場干擾。

            (4)地電流干擾。

            (5)吸嘲漏電影響。

            (6)在帶電體上進行測溫也可引入交流干擾。